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第206章 新一代半导体材料 (10 / 11)

作者:模拟空心菜 最后更新:2025/7/1 16:33:15
        只是在第一道检测中,通过X射线检测晶体结构时,氧化镓就表现出了远超正常水平的特异。

        通常来说,能带宽度与相邻原子电子云叠加值J成正比,晶格常数越大,J越小,能带宽度越小,则禁带宽度越大!

        而目前工业界成熟的半导体材料硅的晶格常数是5.43,砷化镓的晶格常数是5.65,但氧化镓的晶格常数直接跳过两位数,来到了三位数,几乎是硅的20倍!

        “不用继续检测了,直接通电测数据!”

        肖蒙当机立断,这是最简单最快速的检测方式,只是这样可能造成样品的损坏,但她已经迫不及待的想要拿到这块薄片的参数了,反正制备方法他们已经掌握,即便是损坏,也可以再制备一片便是。

        “我来!”

        刚刚完成几个小时制备的杨驰顾不得疲惫,冲上前去,亲自动手实验。

        鄂维南也是快步来到检测室旁,眼中已经有喜色涌动,氧化镓种种不同凡响的表现,似乎已经在谕示着什么了。

        很快,在杨驰的操作下,一组组的数据被测量出来。

        禁带宽度4.8-4.9eV,远超当前主流半导体硅的1.1eV、碳化硅的3.25eV和氮化镓的3.4eV,

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